1. Analog IC Reliability in Nanometer CMOS

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه زبانهای خارجی و منابع اسلامی (قم)

موضوع : Metal oxide semiconductors, Complementary,نیمه هادی‌های اکسید فلزی مکمل,a04,a04,Linear integrated circuits -- Reliability.,مدارهای مجتمع خطی -- اطمینان‌پذیری

رده :
E-Book
,

2. Analog IC reliability in nanometer CMOS

پدیدآورنده :

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : Linear integrated circuits-- Reliability,Metal oxide semiconductors, Complementary

رده :
TK7874
.
M37
2013

3. Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)

موضوع : Integrated circuits ; Ultra large scale integration. ; Finite element method. ; Reliability (Engineering) ;

4. Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه ولی عصر(عج) رفسنجان (کرمان)

موضوع : Integrated circuits--Ultra large scale integration,Finite element method,Reliability )Engineering(

رده :
TK
7874
.
76
.
A67
2011

5. Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع : Integrated circuits, Ultra large scale integration,Finite element method,Reliability (Engineering)

رده :
E-BOOK

6. Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)

موضوع : Integrated circuits--Ultra large scale integration,Finite element method.,Reliability (Engineering)

رده :
TK
,
7874
.
76
,.
A67
,
2011

7. Applications of finite element methods for reliability studies on ULSI interconnections

پدیدآورنده :

موضوع : Integrated circuits, Ultra large scale integration,Finite element method,Reliability (Engineering)

۲ نسخه از این کتاب در ۲ کتابخانه موجود است.

8. Circuit design for reliability /

پدیدآورنده :

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : Integrated circuits-- Design and construction.,Integrated circuits-- Reliability.

رده :
TK7874

9. Circuit design for reliability

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)

موضوع : Integrated circuits--Design and construction,Integrated circuits--Reliability

رده :
TK7874
.
C55
2015

10. ESD :

پدیدآورنده :

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : Electric discharges,Electrostatics,Integrated circuits-- Protection,Integrated circuits-- Reliability,Integrated circuits-- Testing,Semiconductors-- Failures

رده :
TK7871
.
852
.
V65
2009

11. Electromigration modeling at circuit layout level

پدیدآورنده :

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : Electrodiffusion-- Simulation methods,Integrated circuits-- Reliability

رده :
TK7874
.
T36
2013

12. Electronics reliability and measurement technology :

پدیدآورنده :

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : Integrated circuits-- Reliability-- Congresses,Integrated circuits-- Testing-- Congresses,Nondestructive testing-- Congresses

رده :
TK7874
.
E486
1988

13. Electronics reliability and measurement technology : nondestructive evaluation

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه پژوهشگاه نیرو (تهران)

موضوع : ، Integrated circuits- Testing- Congresses,، Integrated circuits- Reliability- Congresses,، Non- destructive testing- Congresses

رده :
TK
7874
.
E486
1988

14. Failure analysis of integrated circuits :tools and techniques

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (تهران)

موضوع : Failures ، Semiconductors,Testing ، Integrated circuits,Reliability ، Integrated circuits

رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999

15. Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه مرکزی دانشگاه صنعتی امیرکبیر (تهران)

موضوع : Semiconductors - Failures , Integrated circuits - Testing , Integrated circuits - Reliability

رده :
TK
7871
.
852
.
F35
1999

16. Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories

پدیدآورنده :

کتابخانه: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (تهران)

موضوع : ، Random access memory-- Reliability,، Integrated circuits-- Fault tolerance,، Semiconeductor storage devices

رده :
TK
7895
.
M4
.
C44
2002

17. Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه پژوهشگاه دانشهای بنیادی (تهران)

موضوع : Reliability ، Random access memory,، Integrated circuits -- Fault tolerance,، Semiconductor storage devices

رده :
TK
7895
.
M4C44

18. Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)

موضوع : Random access memory -- Reliability,Integrated circuits -- Fault tolerance,Semiconductor storage devices

رده :
TK
7895
.
M4C44
2002

19. Fault-tolerance and reliability techniques for high-density random-access memories

پدیدآورنده :

کتابخانه: کتابخانه پرديس 2 دانشکده‌های فنی دانشگاه تهران (تهران)

موضوع : Random access memory -- Reliability,Integrated circuits -- Fault tolerance,Semiconductor storage devices

رده :
TK
7895
.
M4C44

20. Gate dielectric integrity :

پدیدآورنده :

کتابخانه: مرکز و کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان‌های اروپایی (قم)

موضوع : Dielectrics-- Testing.,Gate array circuits-- Materials.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration-- Reliability.,Semiconductor wafers-- Reliability.,Silicon oxide films-- Testing.,Dielectrics-- Testing.,Gate array circuits-- Materials.,Integrated circuits-- Wafer-scale integration-- Reliability.,Semiconductor wafers-- Reliability.

رده :
TK7871
.
85
.
G32
2000